A LEXT OLS5100 3D Konfokális lézer pásztázó mérőmikroszkóp rendszer nanométeres szintekre emeli a képalkotást. 3D mérés és felületi érdesség vizsgálati lehetőségek. Az 54x-17,280x (látómező: 16 µm–5,120 µm, megjelenítési pontosság: XY: 1nm Z: 0,5nm) nagyítási tartomány minden mai kutatói igényt kielégít.
-
Termék leírása
-
A LEXT OLS5100 lézerpásztázó digitális mikroszkóp képes érintésmentes 3D vizsgálatot és méréseket végezni 10 nanométeres pontossággal bármely felületen. Az OLS5100 egy anyagtudományi mikroszkóp, mely képes nagy felbontáson rendkívüli sebességgel dolgozni. Alkalmas továbbá HDR, DIC vagy színes, 2 vagy akár 3 dimenziós panoráma kép készítésére is nagysebességgel. ISO25178 szabványnak megfelelő felület
Érdességmérés. Nincs szükség mintaelőkészítésre – egyszerűen helyezze a
mintát a tárgyasztalra, és kezdheti is a mérést. A LEXT ™ mikroszkópokhoz tervezett objektívlencsék rendkívül pontos mérési adatokat szolgáltatnak,
lehetővé téve számunkra a mikroszkóp mérési pontosságának garantálását.
-
-
Letöltések
Radványi Zsolt
Kereskedelmi képviselő
Amennyiben további kérdése van a termékkel kapcsolatban, vagy ajánlatot szeretne kérni, kérjük keresse kollégánkat.
Kapcsolódó videók
