A Thermo Scientific DXR3 Raman-mikroszkóp a kutatási szintű precizitást ötvözi a modern ipari laboratóriumok által elvárt sebességgel. Ez a nagyteljesítményű konfokális mérőállomás akár 540 nm-es térbeli felbontásával és kivételes érzékenységével a legkisebb anyagszerkezeti eltéréseket és mikroszkopikus szennyeződéseket is azonnal láthatóvá teszi. Az intuitív „point-and-shoot” (kijelölés és mérés) logikára épülő rendszer drasztikusan leegyszerűsíti a komplex részecskeanalitikai munkafolyamatokat, miközben a beépített intelligens automatizmusok garantálják a tévedhetetlen, azonnal publikálható vagy auditálható eredményeket – függetlenül a kezelő spektroszkópiai jártasságától.
-
Termék leírása
-
Thermo Scientific DXR3 Raman-mikroszkóp – Kimagasló optikai teljesítmény és konfokális felbontás
A Thermo Scientific DXR3 Raman mikroszkóp érzékenysége és felbontása megfelel a csúcskategóriás kutatórendszerek elvárásainak, lehetővé téve az alacsony koncentrációjú, gyenge Raman-szórású vagy a lézersugárzásra érzékeny minták precíz elemzését.
- Térbeli és mélységi felbontás: Ideális minták esetén a laterális térbeli felbontás elérheti az 540 nm-t, míg a konfokális mélységi felbontás az 1,7 µm-t.
- Triplet spektrométer: A szabadalmaztatott, mozgó alkatrészek nélküli spektrométer-kialakítás optimalizálja a csúcsformákat és fenntartja a fókuszt a teljes tartományban, kiküszöbölve a mechanikai kopásból eredő kalibrációs hibákat.
- Teljes spektrális lefedettség: A 3500–50 cm-1 közötti tartomány rögzítése a CCD detektor egyetlen expozíciójával történik, elkerülve a spektrumillesztési (stitching) vizuális hibákat. 532 nm-es lézer esetén kiterjesztett tartomány is elérhető 6000 cm-1-ig.
Intelligens automatizálás és megbízhatóság
A berendezést úgy tervezték, hogy a spektroszkópiai szaktudással nem rendelkező felhasználók is reprodukálható, kutatási szintű eredményeket kapjanak.
- Háromutas automatikus beigazítás (Three-path alignment): Biztosítja a spektrális adatok és a vizuális célpont tökéletes korrelációját.
- Aktív lézerteljesítmény-szabályozás (Laser Power Regulator): Folyamatosan monitorozza és szinten tartja a lézer teljesítményét annak teljes élettartama alatt, így biztosítva az állandó gerjesztési feltételeket.
- Automatikus adatoptimalizálás: A szoftver valós idejű előnézetet, automatikus fluoreszcencia-korrekciót, automatikus expozíció-beállítást (autoexposure), kozmikus sugárzás kiszűrést, valamint a detektor elektronikus zajprofilját elimináló Smart-Backgrounds algoritmust alkalmaz.
- Automatikus X-tengely kalibráció: Megakadályozza a környezeti hőmérséklet-változás okozta spektrális eltolódást (drift), feleslegessé téve a manuális kalibrálást.
Rugalmas konfigurálhatóság és moduláris felépítés
A felhasználó szerszámok és szervizmérnök igénybevétele nélkül, másodpercek alatt konfigurálhatja át a műszert az új feladatokhoz az automatikusan felismert és zárt rögzítésű (lock-in-place) komponensek révén.
- Sokrétű gerjesztési hullámhosszúság értékek: Támogatja a 455 nm, 532 nm, 633 nm és 785 nm hullámhosszúságú lézereket (nagy fényerejű vagy nagy teljesítményű változatokban), amelyekhez egyedileg optimalizált optikai rácsok tartoznak. A lézerek depolarizáltak a mintaorientációs hatások kiküszöbölésére.
- Bővíthetőség: Választható automatizált polarizált Raman-mód a strukturális információkhoz, mikrolemezes (well plate) automatizálás, fiber-optikai kiegészítők és különféle mintatartó asztalok.
- Kompatibilitás: A komponensek megoszthatók és cserélhetők a DXR3 Raman termékcsalád többi tagjával.
Lézerbiztonság és validálás
- Class 1 minősítés: A mikroszkóp zárt kialakítása független tanúsítvány alapján Class 1 lézerbiztonsági osztályú (szabad szemmel való megtekintéskor a lézerút fizikailag blokkolt).
- Szabályozási megfelelőség: Teljes DQ/IQ/OQ/PQ validálási csomag érhető el automatizált szoftverprotokollokkal. Az OMNIC™ D/S szoftver támogatja a 21 CFR Part 11 adatintegritási előírásokat.
Elsődleges analitikai alkalmazások
- Hiba- és szennyeződésanalízis: Anyaghibák, zárványok, gélhibák és felületi mikrorészecskék gyors azonosítása és többkomponensű spektrumkereső algoritmusokkal történő dekódolása összetett keverékekben is.
- Részecskeanalízis (Particle Analysis): Mikroműanyagok és egyéb diszperz mikrorészecskék automatizált lokalizálása, számlálása és kémiai azonosítása.
- Gyógyszeripar: Polimorfizmusok vizsgálata, tabletták hatóanyag-diffúziós tanulmányai és szemcsés szennyeződések feltárása.
- Polimertechnológia és nanotechnológia: Laminátumok tapadórétegeinek elemzése, kristályossági fok meghatározása, grafén, szén nanocsövek (CNT) és DLC bevonatok karakterizálása.
- Műtárgyvédelem, Igazságügyi (forenzikus) analitika és gemológia: Pigmentek, tinták, gyanták azonosítása, kábítószerek és nyomok elemzése, színes drágakövek azonosítása, valamint természetes és szintetikus gyémántok megkülönböztetése.
-
-
Letöltések
Vajnai Zsolt
Termoanalitikai és reológiai mérőkészülékek, FTIR/NIR és Raman, mérlegek
Amennyiben további kérdése van a termékkel kapcsolatban, vagy ajánlatot szeretne kérni, kérjük keresse kollégánkat.