Hitachi HF-3300

A HF-3300 egy 100-300 kV gyorsító feszültséggel működő TEM/STEM/SEM rendszer, melynek lelke a Hitachi csúcstechnológiájú hideg téremissziós elektronforrása (CFE), mellyel nagy fényerő és a nagy felbontás érhető el. A HF-3300 elektronmikroszkóp minden olyan tudással fel van vértezve, ami a különböző anyagok napi szintű struktúrális jellemzéséhez és elemzéséhez szükséges. Az egyedülálló elektronoptikai elrendezés lehetővé teszi EELS (elektron energiaveszteségi spektroszkópiai) és dupla "bi-prizma" elektron holográfiai vizsgálatok elvégzését is. Az másodlagos elektron (SE) és pásztázó transzmissziós elektronmikroszkópiai (STEM) képalkotás révén lehetőség nyílik a felületi és tömbi struktúrák egyidejű vizsgálatára. Elérhető környezeti üzemmódban működő, illetve vagy aberráció-korrigált kivitelben is.

Termék leírása
- Nagy fényerejű hideg téremissziós (Cold-FE) elektronforrás
  
  A hideg téremissziós elektronforrás révén lehetővé válik a minták nano-léptékű elemzése nagy fényerő és nagy energiafelbontás mellett. A műszerben rejlő nagyfokú koherencia remekül hozzájárul az ultranagy felbontású képalkotáshoz és az elektronholográfiai vizsgálatokhoz.
  
  300 kV gyorsító feszültség
  
  A 300 kV gyorsító feszültség révén vastag minták esetében is lehetővé válik az atomi szintű felbontás, mivel a magas rendszámú fémek és kerámiák kevéssé engedik át az elektronokat, így gyakran csak 300 kV gyorsító feszültség mellett vizsgálhatóak.
  
  Egyedülálló analitikai képességek
  
  Az újonnan bevezetett térfelbontású EELS és in-szitu SEM/TEM képalkotás kifinomult és egyedülálló analitikai vizsgálatokra ad lehetőséget.
  
  Mintatartó kapcsolat FIB és TEM között
  
  A Hitachi fókuszált ionnyaláb (FIB) -kompatibilis mintatartóját használva nem szükséges a TEM gridet csipesszel megfogni a FIB megmunkálás és a TEM vizsgálat között. Így a minták biztonságos kezelése és a nagy áteresztőképesség egyszerre megvalósítható. A Hitachi egyedülálló forgatható mintatartója révén, STEM egységet használva, lehetővé válik a többirányú, valósidejű strukturális elemzés.
  
  Felhasználóbarát kezelés
  
  A Windows-alapú TEM/STEM vezérlés, a motorizált apertúra és az 5-tengelyű motorizált tárgyasztal teszi ezt a TEM-et még könnyebben kezelhetővé. A nagyfeszültség 10 percen belül üzemkész, a minta pedig egy percen belül cserélhető, ami hatalmas mintakapacitást biztosít a TEM vizsgálatok során.