A HD-2700 egy 80-200 kV-os gyorsítófeszültségen működő téremissziós (FE) elektronágyúval szerelt pásztázó transzmissziós elektronmikroszkóp (STEM) másodlagos elektron (SE) képalkotási képességgel. Segítségével a minták belsejében és felszínén lévő struktúrák egyidejűleg vizsgálhatóak. Az ultra nagy felbontás mind STEM, mind pedig SE képalkotás során elérhető. A Hitachi aberráció korrigáló rendszerével a felhasználói beavatkozás a minimálisra csökkenthető. A HD-2700 rendszer nagy térszögű EDS, atomi felbontású EDS, valamint EELS (elektron energiaveszteségi spektroszkópia) képalkotásra is alkalmas.
-
Termék leírása
-
Nagy felbontású STEM képalkotás
HAADF-STEM: 0.136 nm
FFT: 0.105 nm (Cs-korrektorral)
BF STEM: 0.204 nm (Cs-korrektor nélkül)Nagysebességű és nagy érzékenységű EDX analízis: 10-szeres próbaáram
Gyors elemtérképezés, a nagyobb áramnak köszönhetően.
Alacsony koncentrációjú elemek detektálása.Hitachi saját gyártású Cs-korrekció
A Hitachi saját fejlesztésű szférikus aberráció korrigáló rendszere segítségével az aberráció korrekció gyors és hatékony és nem igényel tapasztalatot a felhasználó részéről.
Tökéletesen illesztett megoldás a minta-előkészítéstől a vizsgálatig és elemzésig
Hitachi FIB rendszerrel kompatibilis mintatartó.
-
-
Letöltések
Szabó Ábel
Kereskedelmi képviselő
Amennyiben további kérdése van a termékkel kapcsolatban, vagy ajánlatot szeretne kérni, kérjük keresse kollégánkat.
