Hitachi SU9000

A hideg téremissziós elektronforrás (CFE) ideális megoldás nagyfelbontású képalkotáshoz az elektronforrás kis mérete és kedvező elektronenergia eloszlása miatt. Az innovatív CFE elektronágyú technológia kimagasló sugárfényességgel és stabilitással járul hozzá az alap FE-SEM rendszerhez, aminek révén lehetővé válik a nagyfelbontású képalkotás és a magas minőségű elemanalízis. Az egyedülálló objektívlencse elrendezés révén a rendszer alkalmas elektron energiaveszteségi spektroszkópiai (EELS) és diffrakciós vizsgálatokra egyaránt.

Termék leírása
- A SU9000 a HITACHI prémium pásztázó elektronmikroszkópja, mely egyedülálló elektronoptikával rendelkezik, ahol a minta az objektív pólussarujának felső és alsó része közötti résen belül helyezkedik el. Ez az úgynevezett „true-in-lens” koncepció – a HITACHI hideg téremissziós technológiájának következő generációjával együtt – garantálja a lehető legmagasabb felbontást és stabilitást (szekunder elektron felbontás: 0,4 nm 30 kV gyorsító feszültségnél és 1,2 nm 1 kV gyorsító feszültség esetén, sugár lassítás nélkül [0,8 nm sugár lassítással]).
  
  Ahhoz, hogy ez a nagyfelbontás a gyakorlati alkalmazásokban, az Ön laborjában is használható legyen, az SU9000 ultrastabil, oldalirányú mintatartó bemenettel rendelkezik (hasonlóan a transzmissziós elektronmikroszkópokhoz). Ezt egészíti ki az optimalizált rezgéscsillapító rendszer valamint egy zárt külső burkolat, amely megfelelően leszigeteli az elektronoptikát a környezeti elektromágneses zajtól.
  
  Ezen felül az SU9000 tiszta vákuum koncepciója olyan vákuum szintet hoz létre az elektronágyúban és a mintakamrában, ami egy nagyságrenddel nagyobb nagyítást tesz lehetővé az előző generációs mikroszkópokhoz képest és minimalizálja a minták szennyeződését. A minták hatékony megfigyelés előtti tisztítására a Hitachi ZONESEM mintatisztítója szolgál. https://www.hitachi-hightech.com/global/science/products/microscopes/sample-preparation/tem-stem/zone.html
  
  A tiszta és felülmúlhatatlan felbontás mellett a SU9000 fel van szerelve egy figyelemre méltó 2 + 2 érzékelő rendszerrel mely alkalmas a minta felszínének, elemösszetételének mérésére és transzmissziós vizsgálatokra is.
  
  A szabadalmaztatott „Super ExB” szűrő és a minta fölött elhelyezkedő első (SED1) detektor együttes használata lehetővé teszi a felhasználók számára a számukra érdekes SE (másodlagos elektron) és LA-BSE (kisszögben visszaszórt elektron) jelek energia szerinti szűrését és szelektív összegyűjtését, ezáltal kiküszöbölve a töltődési műtermékeket és láthatóvá téve a topográfiai részleteket.
  
  A felső detektorba (SED2) HA-BSE (azaz nagyszögben visszaszórt) elektronok jutnak, feltárva az anyagra jellemző -topográfiától független- krisztallográfiai orientációs különbségeket.
  
  A Super ExB szűrő és a SED1, SED2 detektorok elhelyezkedése
  
  Ez a jelkiválasztási technológia teszi az SU9000-et a katalizátor gyártás és más kutatási területek preferált készülékévé. Hűthető (kriogén) mintatartóval együtt használva pedig a biológiai, gyógyszeripari és immunjelölési technikák igényeit is kielégíti.
  
  A SU9000 egy hihetetlenül hathatós/sokoldalú, alacsony gyorsítófeszültséggel működő STEM, amely gyakran nagyobb kontrasztot mutat a minták kritikus tulajdonságait illetően, mint a nagyenergiájú STEM rendszerek. Ezenkívül egyidejűleg világos látóterű (Brightfield) és gyűrűs sötét látóterű (Annular Darkfield) képalkotásra is képes. Az SU9000-es Annular Darkfield detektora 56 különböző pozícióba állítható, hogy az adott mintáról a legoptimálisabb Z-kontraszt képet kapjuk.
  
  Az SU9000 lenyűgöző stabilitása garantált 0,34 nm-es STEM felbontást tesz lehetővé, amivel képesek vagyunk szén nanocsövek, grafén és más anyagok szerkezetvizsgálatára.
Letöltések
- SU9000-panel-1.pdf
- SU9000_flier-English-1.pdf