Az SU8200 FE-SEM egy új fejlesztésű CFE elektronágyút használ, ami a Hitachi szabadalommal védett "Mild Flashing" technológiára épül, továbbá egy új vákuum rendszer segíti a gázmolekulák depozíciójának minimalizálását az emitter csúcsáról.
-
Termék leírása
-
A Hitachi új generációs hideg tér emissziós (Cold Field Emission – CFE) SEM páratlan képalkotási minőséget biztosít alacsony gyorsító feszültség mellett és átfogó analitikai mikroanalízist tesz lehetővé a CFEkompromisszum-mentes teljesítménye révén.
A 8200-as sorozatú FE-SEM mikroszkópok egy új fejlesztésű hideg tér emissziós (CFE) elektronágyút használnak a magasabb minőségű képalkotás és analitikai teljesítmény érdekében. Az új fejlesztésű Hitachi CFE elektronágyú jól illeszkedik a hagyományos CFE megoldásban rejlő magas felbontáshoz és fényerőhöz a megnövelt próbaáram és nyaláb stabilitás révén.
Az SU8200 család tagjai tárgyasztalok, mintatartók és jeldetektáló rendszer konfigurációk széles választékát kínálják a legkülönbözőbb felhasználó-specifikus igények kielégítése érdekében a nélkülözhetetlen ultra-nagy felbontású mikroszkópiát igénylő nanotechnológia számára, mint pl. félvezetők, elektronika, katalizátorok és egyéb funkcionális anyagok, biotechnológia, valamint gyógyszerészet.
-
-
Letöltések
Szabó Ábel
Kereskedelmi képviselő
Amennyiben további kérdése van a termékkel kapcsolatban, vagy ajánlatot szeretne kérni, kérjük keresse kollégánkat.
Kapcsolódó videók
