A Hitachi SU3500 pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) innovatív elektronforrása és detektorai kimagasló képalkotási és analitikai teljesítményt biztosítanak. Az Hitachi SU3500 SEM "hex bias" technológiája révén alacsony gyorsító feszültség mellett is nagy fényerő érhető el, továbbá a fotonkonverziós SE detektor alacsony-vákuum mód mellett is optimális képalkotást tesz lehetővé. Az Hitachi SU3500 SEM egy valódi igásló minden elektronmikroszkópiával foglalkozó laboratórium számára.
-
Termék leírása
-
Az Hitachi SU3500 pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) innovatív elektronoptikai és detektor-rendszerekkel rendelkezik, így páratlan képalkotási és analitikai teljesítményt nyújt. Az intuitív logikával tervezett új, felhasználóbarát grafikus felület átfogó megfigyelő- és megjelenítő funkciókat biztosít, széleskörű alkalmazásokhoz tervezve, beleértve a biológiai és fejlett anyagtudományi mintákat egyaránt. Így lesz a Hitachi SU3500 SEM egy igazi igásló minden laboratórium számára.
Páratlan képminőség
A Hitachi SU3500 SEM új elektronoptikai elrendezése a kategóriájában kimagasló élességet biztosít. 3 nm SE (másodlagos elektron), illetve 4 nm BSE (visszaszórt elektron) felbontás érhető el 30 kV gyorsító feszültség esetén.
Intuitív működtetés
A „delegation” technológia révén az SU3500 széles képernyőjű grafikus felülettel és gyors (kb. 7 másodperc) automatikus kép-optimalizálási funkcióval rendelkezik.
Változtatható nyomású detektor
Segítségével alacsony vákuum és alacsony gyorsító feszültség mellett is részletgazdag felszíni információ nyerhető.
Térhatású kép funkció
Valósidejű „3D” képalkotás egyetlen kattintásra.
-
-
Letöltések
Szabó Ábel
Kereskedelmi képviselő
Amennyiben további kérdése van a termékkel kapcsolatban, vagy ajánlatot szeretne kérni, kérjük keresse kollégánkat.
Kapcsolódó videók
