Element GD Pro GD-MS

Thermo Scientific Element GD Plus^TM Glimmkisülési tömegspektrométer szilárd minták közvetlen nyomelem- és ultranyomelem-analíziséhez 

A Thermo Scientific Element GD Plus™ GD-MS új szintre emeli a szilárd minták közvetlen elemanalízisét. A rendszer a mikroszekundumos impulzusüzemű, gyors áramlású Glimmkisülési (GD) ionforrást nagyfelbontású tömegspektrométerrel kombinálja, így kiemelkedő érzékenységet, nagy tömegfelbontást és gyors mintafeldolgozást kínál összetett mátrixok esetén is.  

A technológia ideális választás olyan laboratóriumok és ipari minőségellenőrző részlegek számára, ahol fémek, ötvözetek, kompozitok, kerámiák vagy nemvezető porok megbízható nyomelem- és ultranyomelem-vizsgálatára, illetve vékony rétegek mélységprofilozására van szükség. 

Miért érdemes az Element GD Plus rendszert választani? 

Az Element GD Plus^TM egyik legfontosabb előnye, hogy a nagy érzékenységet nagy tömegfelbontással és gyors analízissel ötvözi. A nagy porlasztási sebesség csökkenti az előporlasztási időt és a minta-előkészítési igényt, míg az impulzusüzem csökkentett porlasztási sebesség mellett is nagy érzékenységet biztosít, ami kiváló mélységprofil-vizsgálatot tesz lehetővé. Az egyszerű vákuumkövetelményeknek köszönhetően a leszivattyúzási idő 10 s-nél rövidebb lehet.  

A rendszer tipikus 10–15 perc/minta mérési időt tesz lehetővé, hogy a GD-MS technológia ne csupán kutatási feladatokra, hanem szigorú ipari gyártásközi és végellenőrzési folyamatokra is alkalmas legyen – még ppb szintű minőségellenőrzési határértékek esetén is.  

• Nagy tömegfelbontás – kevesebb interferencia, megbízhatóbb eredmények. Összetett mátrixok vizsgálatakor az egyik legnagyobb analitikai kihívást a spektrális interferenciák jelentik. Az Element GD Plus nagyfelbontású tömegspektrométere ezt közvetlenül kezeli. A műszer három felbontási tartományt kínál: R ≥ 300 (alacsony), R ≥ 4 000 (közepes) és R ≥ 10 000 (nagy), miközben a felbontási módok közötti váltás ideje kevesebb mint 1 másodperc. Ez lehetővé teszi több felbontás alkalmazását ugyanazon analízis során anélkül, hogy a sebességből érdemben engedni kellene. A nagy tömegfelbontás hatékony interferencia-eltávolítást tesz lehetővé még olyan komplex minták esetében is, mint például a nikkelötvözetek. A nagy pásztázási sebesség kiváló mélységi felbontást, a magas tömegstabilitás pedig gyors és stabil méréseket támogat.  

• Kiemelkedő érzékenység és rendkívül széles dinamikatartomány. Az Element GD Plus^TM érzékenysége >1 × 10¹⁰ cps réz esetén, közepes felbontásban (R ≥ 4 000). Dinamikus detektálási tartománya: >10¹², automatikus keresztkalibrációval. Tömegstabilitás: 25 ppm / 8 óra. Pásztázási ciklusidő: <150 ms (m/z 7 → 238 → 7). 

• Innovatív impulzusüzemű Glimmkisülési ionforrás. Az Element GD Plus^TM Grimm-típusú, gyors áramlású Glimmkisülési ionforrása folyamatos DC és modulált impulzusüzemben egyaránt működtethető. Az impulzusüzem lehetővé teszi többféle nemvezető kerámiapor elemzését is. A ionforrás maximális feszültsége 1400 V, tipikus működési tartománya 400–1200 V közötti. Az impulzusüzem standard beállítása 1 kV, 50 μs és 2 kHz, 500 ml/perc argonáramlással. A Peltier-hűtés standard tartománya –25 és +50 °C, opcionálisan pedig –40 és +50 °C közötti tartományra terjeszthető ki.  

• Mélységi profilozás. Az Element GD Plus^TM nemcsak tömbi anyagvizsgálatra használható. A rendszer nanométer–mikrométer vastagságú rétegek mélységi profilozását is támogatja. Ez különösen értékessé teszi a rendszert bevonatok, felületkezelt anyagok és többrétegű rendszerek vizsgálatánál, ahol nemcsak az a kérdés, hogy milyen elemek vannak jelen, hanem az is, hogy hogyan változik az összetétel a mélység függvényében. 

• Thermo Scientific Element™ Software Suite szoftver a műszer teljes körű vezérlését és az adatok kiértékelését biztosítja. A szoftver kialakításánál egyszerre volt szempont az egyszerű rutinműködés és a fejlett analitikai feladatokhoz szükséges rugalmasság.  

Intelligens szoftver 

A Thermo Scientific Element™ Software Suite a műszer valamennyi GD-MS funkcióját vezérli és felügyeli, miközben biztosítja az adatkiértékeléshez szükséges funkciókat. A rendszer támogatja a LIMS-kapcsolatot, az automatikus detektor-keresztkalibrációt és a tömegdrift korrekcióját. Mennyiségi elemzés végezhető standard anyagokból meghatározott Relative Sensitivity Factor (RSF) értékekkel, míg az Ion Beam Ratio (IBR) megközelítés félkvantitatív elemzést tesz lehetővé.  

Alkalmazási területek 

Az Element GD Plus^TM GD-MS különösen jól alkalmazható a nagy tisztaságú fémek és tömbi fémminták ultranyomelem-vizsgálatára, komplex ötvözetek – például Ni-alapú ötvözetek – elemzésére, kompozitok és kerámiák vizsgálatára, valamint nemvezető kerámiaporok megfelelő minta-előkészítést követő analízisére. Emellett kiváló lehetőséget kínál vékony rétegek és bevonatok mélységi profilozására, illetve olyan ipari minőségellenőrzési feladatokra, ahol gyors eredményekre és rendkívül alacsony kimutatási szintekre van szükség.