Meiwafosis a 21. Nemzetközi Mikroszkópiai Kongresszuson

A Meiwafosis részt vesz a 21. International Microscopy Congress, vagyis az IMC21 szakmai kiállításán, ahol bemutatja a Tennant20 ozmiumozó rendszert. A Tennant20 kifejezetten elektronmikroszkópos minta-előkészítéshez fejlesztett ozmium bevonó rendszer, amely vékony, egyenletes, vezető bevonat készítésével támogatja a nagyfelbontású SEM-vizsgálatokat, különösen nem vezető vagy érzékeny minták esetén.

A Meiwafosis szeretettel vár minden érdeklődőt a kiállításon, aki szeretné közelebbről megismerni az ozmiumbevonás előnyeit és a Tennant20 működését.

További információ: https://meiwanet.co.jp/en/tennant20/